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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16b.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZGivnK2Y/SvKGx
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m17@80/2007/12.20.13.30   (acesso restrito)
Última Atualização2013:03.27.12.17.58 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m17@80/2007/12.20.13.30.39
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.03.36.45 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE--PRE/
DOI10.1016/j.physa.2007.08.044
ISSN0378-4371
Chave de CitaçãoRosaBaZaSiRoPoBo:2007:AnPoSi
TítuloStructural complexity of disordered surfaces: Analyzing the porous silicon SFM patterns
Ano2007
MêsDec.
Data de Acesso03 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho411 KiB
2. Contextualização
Autor1 Rosa, Reinaldo Roberto
2 Baroni, Mariana Pelissari Monteiro Aguiar
3 Zaniboni, G. T.
4 Silva, A. Ferreira da
5 Roman, L. S.
6 Pontes, J.
7 Bolzan, M. J. A.
Grupo1 LAC-INPE-MCT-BR
2 LAC-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
3 Instituto de Física, Instituto Tecnológico de Aeronáutica (ITA)
4 Instituto de Física, Universidade Federal da Bahia
5 Departamento de Física, Universidade Federal do Paraná
6 COPPE, Universidade Federal do Rio de Janeiro
7 IP&D, Universidade do Vale do Paraíba (UNIVAP)
RevistaPhysica A: Statistical Mechanics and its Applications
Volume386
Número2
Páginas666-673
Histórico (UTC)2007-12-20 13:30:39 :: simone -> administrator ::
2012-11-24 01:33:23 :: administrator -> simone :: 2007
2013-02-20 15:20:16 :: simone -> administrator :: 2007
2013-02-26 14:48:30 :: administrator -> marciana :: 2007
2013-03-27 12:17:58 :: marciana -> administrator :: 2007
2018-06-05 03:36:45 :: administrator -> marciana :: 2007
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-Chavedisordered surfaces
structural complexity
gradient pattern analysis
wavelet multiresolution analysis
Euler characteristic
KPZ equation
porous silicon
ResumoThis paper introduces a relative structural complexity measure for the characterization of disordered surfaces. Numerical solutions of 2d+1 KPZ equation and scanning force microscopy (SFM) patterns of porous silicon samples are analyzed using this methodology. The results and phenomenological interpretation indicate that the proposed measure is efficient for quantitatively characterize the structural complexity of disordered surfaces (and interfaces) observed and/or simulated in nano, micro and ordinary scales.
ÁreaCOMP
Arranjourlib.net > LABAC > Structural complexity of...
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvo1-s2.0-S0378437107009557-main.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
marciana
simone
Visibilidadeshown
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft24
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESGTTP
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX.
Acervo Hospedeirolcp.inpe.br/ignes/2004/02.12.18.39
cptec.inpe.br/walmeida/2003/04.25.17.12
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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