1. Identificação | |
Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
Site | mtc-m16b.sid.inpe.br |
Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
Identificador | 6qtX3pFwXQZGivnK2Y/SnJHK |
Repositório | sid.inpe.br/mtc-m17@80/2007/12.06.17.54 (acesso restrito) |
Última Atualização | 2008:06.18.12.15.54 (UTC) administrator |
Repositório de Metadados | sid.inpe.br/mtc-m17@80/2007/12.06.17.54.32 |
Última Atualização dos Metadados | 2018:06.05.03.30.28 (UTC) administrator |
Chave Secundária | INPE--PRE/ |
DOI | 10.1016/j.jallcom.2007.04.039 |
ISSN | 0925-8388 |
Chave de Citação | AmseiJrSiPiZaLoVa:2008:StElPr |
Título | Structural and electrical properties of SrBi2(Ta0.5Nb0.5)2O9 thin films |
Ano | 2008 |
Mês | June |
Data de Acesso | 07 maio 2024 |
Tipo Secundário | PRE PI |
Número de Arquivos | 1 |
Tamanho | 400 KiB |
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2. Contextualização | |
Autor | 1 Amsei Junior, N. L. 2 Simões, A. Z. 3 Pianno, R. F. C. 4 Zanetti, Sonia Maria 5 Longo, E. 6 Varela, J. A. |
Grupo | 1 2 3 4 LAS-CTE-INPE-MCT-BR |
Afiliação | 1 Instituto de Química, Universidade Estadual Paulista (UNESP) 2 Instituto de Química, Universidade Estadual Paulista (UNESP) 3 Instituto de Química, Universidade Estadual Paulista (UNESP) 4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 5 Instituto de Química, Universidade Estadual Paulista (UNESP) 6 Instituto de Química, Universidade Estadual Paulista (UNESP) |
Revista | Journal of Alloys and Compounds |
Volume | 458 |
Número | 1/2 |
Páginas | 500-503 |
Histórico (UTC) | 2008-06-18 12:15:54 :: simone -> administrator :: 2008-06-29 02:38:45 :: administrator -> banon :: 2008-11-05 18:40:22 :: banon -> administrator :: 2012-10-20 15:07:52 :: administrator -> simone :: 2008 2013-02-20 15:20:12 :: simone -> administrator :: 2008 2018-06-05 03:30:28 :: administrator -> marciana :: 2008 |
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3. Conteúdo e estrutura | |
É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
Estágio do Conteúdo | concluido |
Transferível | 1 |
Tipo do Conteúdo | External Contribution |
Palavras-Chave | Ferroelectric Chemical synthesis Thin films Nanostructures |
Resumo | SrBi2(Ta0.5Nb0.5)2O9 (SBTN) thin films were obtained by polymeric precursor method on Pt/Ti/SiO2/Si(1 0 0) substrates. The film is dense and crack-free after annealing at 700 °C for 2 h in static air. Crystallinity and morphological characteristic were examined by X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FEG-SEM) and atomic force microscopy (AFM). The films displayed rounded grains with a superficial roughness of 3.5 nm. The dielectric permittivity was 122 with loss tangent of 0.040. The remanent polarization (Pr) and coercive field (Ec) were 5.1 ìC/cm2 and 96 kV/cm, respectively. |
Área | FISMAT |
Arranjo | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Structural and electrical... |
Conteúdo da Pasta doc | acessar |
Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
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4. Condições de acesso e uso | |
Idioma | en |
Arquivo Alvo | structural and electrical.pdf |
Grupo de Usuários | administrator banon simone |
Visibilidade | shown |
Política de Arquivamento | denypublisher denyfinaldraft24 |
Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 |
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5. Fontes relacionadas | |
Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 |
Divulgação | WEBSCI; PORTALCAPES. |
Acervo Hospedeiro | lcp.inpe.br/ignes/2004/02.12.18.39 cptec.inpe.br/walmeida/2003/04.25.17.12 |
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6. Notas | |
Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype |
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7. Controle da descrição | |
e-Mail (login) | marciana |
atualizar | |
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